氧化诱导测定仪 内置10寸电脑

 YND-A1氧化诱导测定仪 内置10寸电脑技术特点：

1：氧化诱导期测试仪，客户一键式操作，软件全自动运行。

2：全新传感器样品支架，全封闭结构设计，防止物品掉入到炉体中去。

3：仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分 氧化诱导期氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动态OIT)的测定。

4：内嵌10寸超大工业级别的电脑，无需另配电脑，一体化设备，显示信息丰富，包括设定温度、样品温度，氧气流量，氮气流量，差热信号，各种开关状态,流量归零。

5：仪器右侧标配四路USB接口，方便用户外接鼠标、键盘、打印机，U盘等外部设备，方便用户使用。

6：仪器内部USB通讯接口，相对于原有仪器，稳定性更强、通用性强，通信可靠不中断，支持自恢复连接功能。

7：数字气体质量流量计自动切换两路气氛流量，切换速度快，稳定时间短。

8：标配标准样品，方便客户校正恒温系数。

9：预安装软件，无电脑适应性问题，减少由于更换使用电脑，安装驱动错误导致的连接等问题。

10：支持用户自编程程序，实现测量步骤全自动化。软件提供数十种指令，用户可根据自己的测量步骤，灵活组合各指令，并保存。复杂的操作就简化成一键操作。

11: 配置WIN 10系统，拥有32GB容量、2GB系统内存，无需使用U盘转移数据，仪器内部即可存储，操作方式触摸屏与鼠键均可使用

12：双温度探头，分别检测炉体温度与样品温度，保证样品温度测量的高度重复性、真实性。

产品应用范围：

氧化诱导时间（OIT）是测定样品在高温（200摄氏度）氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间，是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。

氧化诱导期(简称OIT)方法是一种采用差热分析法（DTA）以塑料分子链断裂时的放热反映为依据，测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。

其原理是：将塑料式样与惰性参比物（如氧化铝）置于差热分析仪中，使其在一定温度下用氧气迅速置换式样室内地惰性气体（如氮气）。测试由于式样氧化而引起的DTA曲线（差热谱）的变化，并获得氧化诱导期（时间）OIT（min),以评定塑料的防热老化性能。

仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期。氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动态OIT)的测定。

氧化诱导期已经被纳入管道行业及电线电缆强检范围。

 YND-A1氧化诱导测定仪 内置10寸电脑技术参数：

1: 温度范围: 室温~500℃       

2: 温度分辨率: 0.01℃           

3: 量热分辨率：100%，在一定条件下可以*分辨考得接近的两个热效力

4: 升温速率: 0.1～80℃/min

5: 降温速率：0.1℃/min-30℃/min

6: 恒温温度：室温-500℃

7: 恒温时间：建议＜24h

8: 控温方式：升温，恒温（全自动程序控制）

9: DSC量程:  0～±500mW      

10: DSC解析度: 0.01mW                         

11: DSC灵敏度: 0.01mW

12: 工作电源: AC 220V  50Hz或定制

13：气氛控制气体：氮气 氧气（仪器自动切换）

14：气体流量：0-200mL/min   

15: 气体压力：0.2MPa

16: 气体流量精度：0.2mL/min  

17: 选配坩埚：铝质坩埚Φ6.7*3mm  

18: 参数标准：配有标准物质（铟，锡，锌），用户可自行校正温度

19: 数据接口：标准USB接口（接口内置，无需外部连接）

20: 显示方式：10寸工业电脑触摸显示，可外接鼠标、键盘、U盘、打印机

21：全进口传感器、进口芯片

22：全封闭支架结构设计，防止物品掉入到炉体中、污染炉体，减少维修率

23：功率：300W

配置单：

1. 差示扫描量热仪主机 1台

2. 氧化铝坩埚 300个

3. 电源线 1根

4. USB线 1根

5. 软件光盘 1份

6. 软件狗 1个

7. 鼠标 1个

8. 键盘 1个

9. 7号电池 4节

10. 氧气导管 5米

11. 氮气导管 5米

12. 说明书 1份

13. 操作视频 1套

14. 软件 1套

15. 标准测试样品（铟，锡，锌） 1份

16. 镊子 1个

17. 药匙 1个

18. 定制减压阀接头与快速接头 2对

19. 熔断玻璃保险丝 4个

20. 合格证与质量保证书 1份