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YND-B1大屏差示扫描量热仪 无需外接电脑,显示方式: 10寸工业电脑触摸显示，可外接鼠标、键盘、U盘、打印机，全封闭支架结构设计，防止物品掉入到炉体中、污染炉体，减少维修率，双温度探头，分别检测炉体温度与样品温度，保证样品温度测量的高度重复性、真实性。
YND-A1氧化诱导测定仪 内置10寸电脑仪器符合G B /T 19466.3- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期。氧化诱导时间（等温OIT）和氧化诱导温度（动态OIT）的测定。 氧化诱导期已经被纳入管道行业及电线电缆强检范围。
DSC-500BL低温差示扫描量热仪 半导体制冷 配恒温槽,该差示扫描量热仪为触摸屏式，可进行玻璃化转变温度测试、相转变测试、熔融和热焓值测试、产品稳定性、氧化诱导期测试。
DSC-500BS差示扫描量热仪 快速降温配恒温槽 可测试玻璃化转变温度、熔融和热焓值测试、氧化诱导期、热固化、冷结晶、结晶度等。本系列采用压缩机水冷方式降温，可同时适用于长时间的氧化诱导测试与降温结晶测试要求，避免了炉体长期高温易损伤半导体制冷片的弊端。
DSC差示扫描量热仪DSC-1550B为触摸屏式，可进行玻璃化转变温度测试、相转变测试、熔融和热焓值测试、产品稳定性、氧化诱导期测试。
DSC-1450B高温差示扫描量热仪 晶体材料温度测定仪,该差示扫描量热仪为触摸屏式，可进行玻璃化转变温度测试、相转变测试、熔融和热焓值测试、产品稳定性、氧化诱导期测试。
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