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| 品牌 | Hitachi/日立 | 价格区间 | 5千-1万 |
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牛津面铜测厚仪CMI165-- 可测试高温的PCB铜箔
1、显示单位可为mils，µm或oz
2、用于铜箔的来料检验
3、用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试
4、用于电镀铜后的面铜厚度测试
5、配有SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头
6、可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
7、利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合EN 14571测试标准
CMI165牛津面铜测厚仪CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来，面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。CMI165的温度补偿功能解决了这个问题，确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩，确保探针的耐用性，即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。
CMI165牛津面铜测厚仪CMI165技术参数：
1、厚度测量范围：化学铜：0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
电镀铜：2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)
2、仪器再现性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
3、强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。
4、数据显示单位可选择mils、μm或oz
5、无需特殊规格标准片，可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2 mm
6、可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定）
7、测试数据通过USB2.0实现高速传输，也可保存为Excel格式文件
8、仪器为工厂预校准
9、客户可根据不同应用灵活设置仪器
10、用户可选择固定或连续
仪器使用普通AA电池供电
探针说明：
SRP-T1探针：CMI165可更换探针
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邮箱：guiyangyiqi@163.com
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